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TEM小室與屏蔽房
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TEM小室
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產品簡單介紹
TEM小室
HTM-3GA
HTM-3GA將工作頻率范圍擴展到現有設備之外，現在允許對集成電路進行3GHz的發射和抗擾度測試。
IC帶狀TEM小室
HEM608
horigol的HM608是一個DC到8GHz的IC帶狀TEM小室，它所產生的電磁場，可以用于測試小型設備，如IC、無線通信模塊等。通過HM608的輸入端口施加的外部測試信號產生一致且可預測的TEM測試場。可以使用測試接收器通過端口測量來自TEM小室內部傳輸的設備的輻射場。
TEM小室
TEMZ5233
TEMZ5233型的TEM小室采用小功率功放對小尺寸器件進行測試，采用TEMZ5233型的TEM小室的這種方法相對于暗室加天線的方法便宜許多。
微帶TEM小室
HEM-8A
horigol的HEM-8A是一個8GHz的IC帶狀線TEM小室，可產生電磁場，用于測試IC、無線通信模塊等小型設備。
開放式TEM小室
OTEM-3G
我們的3GHz 開放式TEM小室單元型號可配備可選的PCB夾具，可用于根據SAE J1752-3進行IC 或者PCB板測試。
3G TEM小室
TEM 3000A
橫向電磁 （TEM）小室或克勞福德小室（以其***的名字命名）用于在較寬的頻率范圍內產生**的電磁波：DC （0 Hz） 至 GHz。單元中產生的電磁波以橫向模式傳播，具有與平面波相同的特性。
TEM小室
FCC-TEM-JM系列
FCC-TEM小室可用于接收和發射測試。FCC-TEM小室頻譜設計提供寬頻率響應，優異的場均勻性，低駐波比和低插入損失。
TEM小室
HTM-8G
HTM-8G作為國產替代美國FCC 微波TEM小室將工作頻率范圍擴展到現有設備之外，現在允許對集成電路進行 8GHz的發射和抗擾度測試。
深圳市華瑞高電子技術有限公司
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